Sử dụng phóng xạ gamma (Co⁶⁰) chiếu xạ vào hạt của giống lúa Khẩu cắm panh với các liều xạ 250 Gy, 300 Gy, 350 Gy và 400 Gy vào hạt khô và các liều 100 Gy, 150 Gy, 200 Gy vào hạt đã qua ngâm ủ đến mỗi thời điểm 66h, 69h và 72h kể từ khi ngâm hạt. Nghiên cứu sự phát sinh các biến dị ở các thế hệ M1, M2, M3 và M4 nhằm xác định liều chiếu xạ, thời điểm chiếu xạ và thế hệ sau chiếu xạ phát sinh biến dị với tần suất cao phục vụ công tác nghiên cứu chọn tạo giống. Theo đó, kết quả nghiên cứu đã xác định được biến dị phát sinh với tần suất và phổ biến dị cao nhất là ở M2 (2,70%) và giảm dần qua các thế hệ M3 (0,69) và M4 (0,12). Ở M1 chỉ thu được các thường biến phóng xạ. Ở M2, chiếu xạ liều 150 Gy vào hạt đã qua ngâm ủ đến thời điểm 69h cho tần suất cao nhất (5,70%) với 14 loại biến dị, tiếp đến là liều 100 Gy chiếu xạ vào thời điểm 72h kể từ khi ngâm hạt với tần suất 5,10% với 16 loại biến dị; tần suất biến dị thấp nhất là 0,88% với 3 loại biến dị thu được ở liều chiếu xạ 200 Gy, thời điểm 69h kể từ khi ngâm hạt.